上海精密科學(xué)儀器-物理光學(xué)儀器

 WKL-702顆粒圖像分析儀  市場報(bào)價(jià)：61500元

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 聯(lián)系人：陳輝

    將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點(diǎn)。

1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。